VS-5840D PL/EL 测试系统

光致 / 电致发光成像与 I-V 综合检测解决方案

VS-5840D PL/EL 测试系统

VS-5840D 系统介绍

系统功能

基本功能:

  • 硅片 / 过程片 / 成品片 PL 成像:覆盖光伏电池制造全流程
  • 成品片 EL 成像:电致发光检测,快速定位隐裂与缺陷
  • VOC / J0 / RS Mapping:面扫描获取参数空间分布
  • Suns-VOC / J01 / J02 PFF 分析:开路电压光强依赖性与复合分析
  • 接触式亮场 I-V 测试:接触式测试获取精确电流-电压特性
  • 热斑测试:热成像辅助检测电池局部过热现象

高级功能(可选配):

  • 钙钛矿 / 晶硅叠层电池 PL/EL 成像
  • GaInP/GaAs/Ge 多结电池 PL/EL 成像
  • 太阳能电池表体分离功能:区分电池表面与基体的信号贡献

系统的突出性能

  • 全流程覆盖:从硅片到成品片全程 PL/EL 质量监控
  • 多参数 Mapping:VOC、J0、RS 空间分布一目了然
  • Suns-VOC + PFF 分析:精确分解电池复合损失来源
  • 支持多结化合物半导体:GaInP/GaAs/Ge 等多种叠层体系

覆盖硅片至成品片全流程的 PL/EL/I-V 综合检测系统

VS-5840D 技术参数

发光检测 · 缺陷可视化

光致发光 + 电致发光双模式 · 微裂纹/位错/断栅识别

PL 检测
PL 检测
光强
峰值波长
缺陷点
均匀性
EL 缺陷图
亮度均值
对比度
缺陷块
均匀性
AI 缺陷分析
置信度
缺陷面积
分类精度
处理速度
PL 检测 EL 检测 缺陷分析

技术规格

检测模式

光致发光(PL) + 电致发光(EL)双模式

缺陷识别

微裂纹 / 位错 / 断栅

检测速度

EL: 1s/片,PL: 5s/片

空间分辨率

10 μm

适用电池

晶硅电池片 / 组件

数据输出

缺陷分布热力图 + 分类报告

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