产品概述
VS6841 发光分析仪集成了光致发光 (PL)、电致发光 (EL) 和 I-V 测量技术于一体，可在一个系统中获取器件的 PL 图像、EL 图像以及 I-V 特性。它用于定量映射少数载流子寿命，表征硅片和太阳能电池的缺陷，并测量太阳能电池 I-V 曲线的关键参数。它也是科学家开发其他方法和参数的有用工具，可用作在线材料监测和过程控制的有前景的技术。
主要特点
- 三合一集成系统 (PL+EL+I-V)
- 定量映射少数载流子寿命
- 硅片和电池缺陷表征
- I-V 曲线关键参数测量
- 适用于在线材料监测和过程控制